热老化试验箱特别适用于光纤、液晶、晶体、电感、印刷电路板、电池、计算机、手机等产品的耐高温、耐低温循环试验。适用电子器件零部件、电气设备绝缘层材料的耐温性实验、熔融商品的老化测试、评价和判断在高温环境下贮藏和使用的适应性、样品在模拟高温和大气压力的空气中老化后，测定被测试样其性能与未老化样品的性能进行比较。

　　热老化试验箱必须考虑很多因素，否则得出的结论不科学不客观，只有考虑到各种因素，才能指导实际生产。环境因素的影响主要体现在以下几个方面。

 

　　1、热老化试验箱表面污染，湿度，臭氧及其它污染气体，支架及装置。那么这些方面又是怎样的呢？具体内容如下:箱内温度:在照明阶段或停止阶段，控制箱内温度规则的实验程序，相关规范按照设备和部件的预定用途规则在照明阶段达到的温度等级。

 

　　2、首先，接近样品外观的气流速度不仅影响样品的加热，还会使监测辐射强度的开放式温差电堆出现明显错误。其次，在自然环境中，呈现强烈的太阳辐射和零风速的特殊条件的概率极小。

 

　　因此，当需要评估不同风速对热老化试验箱或元件等样品的影响时，应规定具体要求；外观污染:灰尘和其他外观污染物会严重改变受照物体外观的吸收特性，保证样品在实验中的清洁。